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40路電阻測(cè)試儀

40路電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào): AT510X40

所屬分類:微歐姆計(jì)電阻計(jì)

產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-08

簡(jiǎn)要描述:● 多路測(cè)試:40路
● 基本準(zhǔn)確度:0.1%
● 溫度準(zhǔn)確度:0.2℃
● 定制量程,從1μΩ ~ 3MΩ。
● VFD顯示:30,000讀數(shù)。
● 高速測(cè)試:10ms/次,50ms/次,100ms/次

詳細(xì)說(shuō)明:

AT510X40 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,測(cè)試范圍從1μΩ~3MΩ,zui大顯示30,000數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)10ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)4000個(gè)器件的測(cè)試。
配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
配備RS-232C接口,*受控的指令集,*實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)通訊。

 
 
 
技術(shù)規(guī)格
多路測(cè)試:40路
基本準(zhǔn)確度:0.1%
溫度準(zhǔn)確度:0.2℃
定制量程,從1μΩ ~ 3MΩ。
VFD顯示:30,000讀數(shù)。
高速測(cè)試:10ms/次,50ms/次,100ms/次
性能特征
高亮度,超清晰四色VFD顯示。
校正功能:短路清零功能 。
比較器(分選)功能:內(nèi)置比較器,LOW/GD/NG分選結(jié)果顯示和輸出。
四端測(cè)試
內(nèi)置RS232接口和Handler接口。
兼容SCPI指令集。
應(yīng)用
測(cè)量各種高、中、低值電阻器
各種開(kāi)關(guān)接觸電阻
漆包線電阻
接插件接觸電阻
繼電器線包和觸點(diǎn)電阻
變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻
焊點(diǎn)接觸電阻
導(dǎo)線電阻
車、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻
印制版線條和孔化電阻
表征機(jī)電元件的低阻特性
金屬探傷等。



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