電路板邏輯掃描探測(cè)儀
產(chǎn)品型號(hào): IST5700D
所屬分類:電路板故障檢測(cè)儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-07
簡(jiǎn)要描述:IST5700D是由美國(guó)IST公司開發(fā)研制的一種小型邏輯在線測(cè)試儀,由于該設(shè)備體積小、功能強(qiáng)、價(jià)格較低,不需要任何附加的軟件及專業(yè)培訓(xùn)就可以掌握使用特點(diǎn),因此對(duì)一些小型維修網(wǎng)點(diǎn)和檢測(cè)站的維修排障和調(diào)試特別適用。
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