產(chǎn)品分類
products
products
-
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
-
- 中國(guó)臺(tái)灣固緯GWinstek
-
- 同惠電子TONGHUI
-
- 微歐姆計(jì)電阻計(jì)
-
- 直流電源供應(yīng)器
-
- 頻率計(jì)邏輯筆
-
- 香港锝捷DTECHK
-
- 自動(dòng)失真度測(cè)試儀
-
- 美國(guó)泰克Tektronix
-
- 日本德士TEXIO
-
- 存儲(chǔ)記錄儀
-
- 交直流功率計(jì)
-
- 示波器探頭
-
- 信號(hào)功率放大器
-
- 美國(guó)吉時(shí)利Keithley
-
- 交流電源供應(yīng)器
-
- 交直流兩用電源
-
- 交直流電子負(fù)載
-
- 耐壓測(cè)試儀,安規(guī)測(cè)試儀
-
- 泄漏電流測(cè)試儀
-
- LCR電橋測(cè)試儀
-
- 毫伏表 納伏表
-
- 電能質(zhì)量分析儀
-
- 微電流計(jì)高阻計(jì)
-
- 手持萬(wàn)用表鉗表
-
- 臺(tái)式數(shù)字萬(wàn)用表
-
- 手持示波表
-
- 邏輯分析儀
-
- 吉時(shí)利
-
- 信號(hào)發(fā)生器
-
- 頻譜分析儀
-
- 場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀
-
- 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
-
- 電磁兼容EMI測(cè)試
-
- RFID測(cè)試儀
-
- 集成電路測(cè)試儀
-
- 其他檢測(cè)儀器
-
- 頻率特性測(cè)試儀
-
- 音視頻分析儀
-
- 晶體管特性圖示儀
-
- 半導(dǎo)體器件測(cè)試儀
-
- 電路板故障檢測(cè)儀
-
- 過程校準(zhǔn)器
-
- 菲力爾Flir
-
- 思儀Ceyear
LCR測(cè)試儀的基本精度與實(shí)際精度有何不同
點(diǎn)擊次數(shù):1811 更新時(shí)間:2014-01-06
LCR測(cè)試儀的基本精度,是在理想情況下能得到的*精度,基本精度排不會(huì)增加額外誤差因素,如夾具或測(cè)試線。早*測(cè)試新華、頻率、zui高精度設(shè)置或zui慢測(cè)量速度以及*待測(cè)物阻抗的條件下進(jìn)行計(jì)算。因此,了解實(shí)際測(cè)量精度非常重要。測(cè)量范圍、測(cè)量速度、測(cè)試頻率、和電壓準(zhǔn)位,都是要考慮的因素。此外,還有包括由待測(cè)物的損耗因素、內(nèi)阻和儀器范圍帶來的誤差。度計(jì)算公式要將每一個(gè)影響精度的因素考慮在內(nèi)。