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  44. 菲力爾Flir
  45. 思儀Ceyear
  1. 10

    2014-2

    測(cè)量條件參考:元件規(guī)格測(cè)量頻率測(cè)量方式備注電容100KHz并聯(lián)電容≥1μF(非電解電容)100Hz并聯(lián)電容≥1μF(電解電容)100Hz串聯(lián)另加直流偏置,比如1V電感<100nH100KHz串聯(lián)視情況加直流偏置電感≥1H...

  2. 10

    2014-2

    LCR電橋的功能與正確使用方法:如何正確地測(cè)量電子零部件的參數(shù)?電阻、電容、電感是電子線路中必定使用的零部件。在進(jìn)行電子線路的設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上,準(zhǔn)確地測(cè)量這些零部件的值是極其重要的。測(cè)量這些零部件的值,一般使用LCR測(cè)試儀。...

  3. 17

    2014-1

    亦稱背景噪聲。一般指電聲系統(tǒng)中除有用信號(hào)以外的總噪聲:包括音響設(shè)備噪聲和放音環(huán)境噪聲兩部分。比如電視聲中除節(jié)目聲音外的“沙沙”聲等。過(guò)強(qiáng)的本底噪聲,不僅會(huì)使人煩躁,還淹沒聲音中較弱的細(xì)節(jié)部分,使聲音的信噪比和動(dòng)態(tài)范圍減小...

  4. 16

    2014-1

    負(fù)載調(diào)整率電源負(fù)載的變化會(huì)引起電源輸出的變化,負(fù)載增加,輸出降低,相反負(fù)載減少,輸出升高。好的電源負(fù)載變化引起的輸出變化減到zui低,通常指標(biāo)為3%~5%。負(fù)載調(diào)整率是衡量電源好壞的指標(biāo).好的電源輸出接負(fù)載時(shí)電壓降小

  5. 14

    2014-1

    首先,兩者zui主要的區(qū)別是波形存儲(chǔ)占據(jù)的存儲(chǔ)空間要比設(shè)置存儲(chǔ)空間要大的多,因此以存儲(chǔ)器的空間和成本考慮,就需要將兩者分別保持。其次,兩者的調(diào)出上也存在區(qū)別。波形調(diào)出示波器處于STOP狀態(tài),設(shè)置調(diào)出時(shí)不改變保存的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)...

  6. 14

    2014-1

    絕大多數(shù)電感帶有鐵芯磁芯,而帶有鐵芯磁芯的電感對(duì)其施加的磁場(chǎng)非常敏感,磁場(chǎng)與測(cè)試信號(hào)電流成正比,因此相同電平若內(nèi)阻不同,電流就會(huì)不一樣,則結(jié)果有很大區(qū)別。這是客戶電感測(cè)試時(shí)遇到的普遍問題。判定儀器測(cè)試電感的一致性原則應(yīng)該...

  7. 14

    2014-1

    由于儀器本身的漂移,會(huì)疊加一些雜散成分,如接觸電阻、電感、并聯(lián)電容等,則不清零就會(huì)有誤差。短路清零對(duì)小阻抗器件有效,開路清零對(duì)高阻抗器件更有效。

  8. 14

    2014-1

    對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的電子產(chǎn)品,接觸電流的量測(cè)也是有不同的要求,但總括來(lái)說(shuō)接觸電流可分為對(duì)地接觸電流GroundLeakageCurrent、表面對(duì)地接觸電流SurfacetoLineLeakageCurrent以及表面間接觸電...

  9. 14

    2014-1

    耐壓測(cè)試是偵測(cè)流過(guò)被測(cè)物絕緣系統(tǒng)之漏電流,以一高于工作電壓之電壓施加于絕緣系統(tǒng);而電源泄漏電流(接觸電流)則是在被測(cè)物正常操作下,以一zui不利的條件(電壓、頻率)對(duì)被測(cè)物量測(cè)漏電流。簡(jiǎn)單地說(shuō),耐壓測(cè)試之漏電流為無(wú)工作電...

  10. 14

    2014-1

    決定耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓取決于您產(chǎn)品所要投入的市場(chǎng),你必須遵守該國(guó)進(jìn)口管制條例組成部分的安全標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)定。安全標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓和測(cè)試時(shí)間。的狀況是請(qǐng)你的客戶給您相關(guān)測(cè)試要求。一般耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓如下:工作電壓...

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